过厚的镀层导致机械贴合出现问题，并且浪费金钱。过薄的产品可能不符合性能目标，因此，企业将遭受停工并且需要承担返工成本。zui糟糕的是，若产品出现问题，则会使他们的声誉受损。企业通过定期检查产品可确保其zui大限度地减少浪费和由于不得不报废或返工产品造成的停工时间。
因此，选择合适设备来分析镀层对您的业务来说至关重要。许多公司选择XRF分析镀层是因为它具有非破坏性、快速性和直接性。XRF仪器具有各种配置特征以满足您的应用。那么，该如何选择XRF元素分析仪呢？以下是XRF元素分析仪选购技巧，供大家参考！
在您选择设备时，需要考虑两个重要的因素：检测器类型和您所测量样品的尺寸。
检测器类型
选择正确的检测器可以缩短测量时间，提高测试量；并且提供更佳的灵活性，使分析仪更加高效。
PC与SDD检测器
为检测小型产品的镀层，XRF镀层测厚仪使用正比计数器（PC）或硅漂移检测器（SDD）。
正比计数器适用于许多镀层应用，但对含少量元素种类的镀层以及在小面积上测量薄镀层时效果zui佳。
由于其优异的分辨率，SDD更容易处理复杂的镀层结构；SDD对于非常薄的镀层（如：<0.05μm）测量性能也更高。您需要考虑您的业务所需的灵活程度。SDD能提供更高的灵活性以满足未来需求，同时能更好地应对产品的变更，如合金镀层、添加新的中间层或更换底材金属。成本也是一个考虑因素 — SDD成本显然高，但可能更具前瞻性，从长远来看并能节省资金。
您将要测量的样品
考虑您所测量的样品以及测量方式，选择适合您应用的分析仪。
在选择分析仪时，样品尺寸是一个明显需要考虑的因素。除了考虑仪器是否适合您的样品外，还要考虑您购买的分析仪是否能够满足未来需求。选择具有正确特性的镀层分析仪可以提高当前测量样品的生产率，并能适应所镀部件和市场的变化。此举将延长了XRF仪器的使用寿命，并为您赢得新业务提供了更多机会。
样品形状将极大影响所购买分析仪的种类。开槽式样品室更适合长而平的样品，因为样品可以滑过载物台和开关门之间的开口。若配置开槽式样品室，您可以移动样品，且无需反复打开和关闭样品室舱门。在另一方面，开闭式样品室会降低测量过程中凸状样品被碰撞的风险，由此造成测量结果的不准确性。开闭式样品室适合于具有复杂几何形状的大体积样品。
具有较大样品室的XRF分析仪可能还有节省时间的附加功能。例如，较大的样品室可以配置双摄像头视图，更容易移动样品定位或者对不同高度的测试点快速调整聚焦距离。对于一些企业而言，自动定位样品对操作来说至关重要，因为其可以让操作员在XRF进行测量时执行其他任务。对于其他企业而言，只需手动定位样品。