镀层测厚仪是对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的rel="nofollow" 仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。测试方法主要分为：电涡流法、磁感应法、金相法、库仑法以及X射线荧光法。今天，我们主要为您讲解后三种方法的区别以及关系。 1、测量原理比较
| 测试方法 | 测试原理 |
| 金相法 | 利用金相显微镜放大横截面的原理，对镀层厚度放大，进行观测及测量。 |
| 库仑法 | 利用适当的电解液阳极溶解限定面积的覆盖层，根据所耗的电量计算出覆盖层的厚度。 |
| X射线光谱法 | 利用X射线与基体和覆盖层的相互作用产生的离散波长和能量的二次辐射强度与覆盖层单位面积质量之间存在一定的关系。根据校正标准块提供的单位面积质量的覆盖层校正这一关系，给出覆盖层线性厚度。 |
2、标准、要求、仪器的选型
| 测试方法 | 参考标准 | 样品要求 | 仪器 |
| 金相法 | ASTM B487；GB/T 6462 | 镀层厚度不小于1um | 切割机、真空浸渍仪、研磨机、金相显微镜 |
| 库仑法 | ASTM B764；GB/T4955 | 平面不小于5mm2 | 电解测厚仪 |
| X射线光谱法 | ASTM B568； GB/T16921 | 测试面积大于0.05×0.25mm | X-ray镀层测厚仪 |
3、测试因素比较
| 金相法 | 库仑法 | X射线光谱法 | |
| 测试范围 | ＞1um | 0~35um | 重金属0~10um 、其它0~35um |
| 测试 | 高 | 稍差 | 高 |
| 制样 | 制样复杂 | 配置不同电解液 | 简单 |
| 工件损伤 | 有损 | 有损 | 无损 |
| 操作方法 | 操作复杂 | 复杂 | 简单 |
| 测试效率 | 非常低 | 低 | 高 |
| 层数 | 不限 | 单层和Cr/Ni/Cu复合镀层 | *多5层 |
| 镀层预知 | 不需要 | 需要 | 需要 |
| 合金镀层厚度 | 可测 | 不可测 | 可测 |
| 合金成分 | EDS联用 | 不可测 | 可测 |
| 溶液成分测试 | 不可测 | 不可测 | 可测 |
| 人为因素 | 影响大 | 影响大 | 影响小 |
| 价格 | 较高 | 低 | 高 |
4.应用X荧光法的优势1.x射线电镀层测厚仪样品处理方法简单或无前处理2.可快速对样品做定性分析3.对样品可做半定量或准定量分析4.谱线峰背比高,分析灵敏度高5.不破坏试样,无损分析6.试样形态多样化(固体、液体、粉末等)7.设备可靠、维修、维护简单8.快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟，样品可不处理或进行简单处理。9.无损：物理测量，不改变样品性质10.准确：对样品可以分析11.直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快12.环保：检测过程中不产生任何废气、废水