=精密度+准确度    首先解释一下的概念。用户关注的，实际上包含了精密度和准确度两项不同的内容。用户所需求的高仪器一方面要有好的测量精密度，即多次测量的离散型要小，另一方面要有好的准确性，即与真实含量的偏差要小。精密度    精密度即检测结果的离散性，通常以多次检测的标准偏差S来计算，客户如果更关心多次测量的极差，可以用正负二倍标准偏差来换算，D=±2S，意思是任意两次检测结果的差有95%的可能性小于D。对于X荧光光谱仪类分析仪器，精密度的保证，是与所分析谱线的强度(计数率)密切相关的，对于同一个样品，通常谱线强度越高，精密度就越好。例如SDD探测器性能优于Si-PIN的一个重要指标就是它允许更高的计数通过率，并且保持分辨率不变。准确度    另一个反映仪器的指标是准确度，指的是检测结果偏离真实值的程度，对于能量色散型X荧光光谱仪仪器而言，要得到好的准确度，首先要有好的解谱算法得到准确的特征线强度，其次要有好的、合适的定量方法从强度中得到准确的含量。谱线强度计算    简单的计算谱线强度的方法是感兴趣区加和(感兴趣区边界线性背景扣除)，该算法的重复性误差较小，可能更容易得到较好的检测精密度，但这种算法对于重叠谱处理能力很差，在有谱重叠的情况下，难以得到谱线的真实强度。当采用“标准”定量算法时这会带来很大的准确度方面的问题，但对于后面将要提到的折线法却是有利的，因为这种算法的特殊性(非标准算法)可以使经由不准确的谱线强度得到的含量结果也“看起来很美”。通常，在科学、严谨的X荧光光谱仪分析软件中为了得到较好的定量准确度，会用到解谱算法，在有重叠谱的时候，能够将谱线强度计算的尽量准确。这也是为什么我们采用解谱算法而不是前述简单强度算法的原因。